高溫試驗(yàn)的測試目的是為了檢驗(yàn)產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下貯存或使用的適用性。僅適用于經(jīng)過一定長的升溫時(shí)間后，可以達(dá)到的溫度穩(wěn)定的樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從樣品在規(guī)定的試驗(yàn)溫度等級(jí)上達(dá)到溫度穩(wěn)定的瞬間開始計(jì)算。對(duì)于試驗(yàn)期間不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的樣品，如航空和宇航產(chǎn)品，推薦采用特殊的高溫試驗(yàn)。

   在高溫試驗(yàn)的試驗(yàn)方法選擇是我們在做測試時(shí)的疑難問題，特別是對(duì)于一些剛接觸該試驗(yàn)的企業(yè)來講，高溫試驗(yàn)的試驗(yàn)方法如何選擇都非常艱難，下面我們以提供以下方法供大家參考：

1、如果試驗(yàn)?zāi)康氖菫榱舜_定電子電工產(chǎn)品在高溫條件下貯存或百工作狀態(tài)下的適用性，一般要區(qū)分非散熱樣品和散熱樣品;

2、散熱樣品在進(jìn)行高曙試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)采取低空氣流速，以滿足“自由空氣”條件;

3、非散熱樣品進(jìn)行高溫試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)采取高空氣流速;

4、“自由空氣”條件是指空氣運(yùn)動(dòng)只受散熱樣品本身的影響，樣品輻射的能量全部由周圍空氣吸收的條件。

5、低空氣流速試驗(yàn)時(shí)要求這種箱(高溫試驗(yàn)箱或高低溫試驗(yàn)箱)的風(fēng)速盡量低，一般不超過0.5m/s。